Analyse élémentaire
Décrypter les signatures chimiques
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Les analyses élémentaires jouent un rôle important en archéologie en offrant des indices sur l’origine géographique des matériaux, la circulation des artefacts, les techniques anciennes et les échanges commerciaux. Le laboratoire dispose ainsi de deux spectromètre de fluorescence X à dispersion d’énergie et de deux spectromètres à plasma à couplage inductif. Ces méthodes permettent d’identifier les éléments chimiques constitutifs des matériaux et de quantifier leur concentration.
Les instruments du laboratoire :
- Spectromètre de fluorescence X (XRF) ;
- Spectromètre de fluorescence X portable (pXRF) ;
- Spectromètre d’émission atomique de plasma induit par laser (LIBS) ;
- Spectromètre d’émission optique à plasma à couplage inductif (ICP-OES) ;
- Spectromètre de masse à plasma à couplage inductif par ablation laser (LA-ICP-MS).
Spectrométrie de fluorescence X
Responsable : Le Bourdonnec, François-Xavier.
La spectrométrie de fluorescence X est une technique de choix pour l’analyse élémentaire des échantillons archéologiques. Elle utilise la fluorescence X générée par le matériau soumis à un rayonnement X, révélant ainsi la présence et les quantités relatives des éléments chimiques qui le composent.
Spectrométrie à plasma à couplage inductif
Responsable : Pont, Sylvain.
La spectrométrie à plasma à couplage inductif (ICP) est une méthode physique d’analyse chimique permettant de détecter et de quantifier la quasi-totalité des éléments chimiques constitutifs des matériaux. La méthode consiste à ioniser l’échantillon en l’injectant dans un plasma d’argon.
La spectrométrie d’émission optique repose sur le fait que les électrons des atomes ionisés émettent un photon dont l’énergie est caractéristique de l’élément en question lorsqu’ils retournent à leur état fondamental.
La spectrométrie de masse utilise le fait que des ions peuvent être séparés les uns des autres en fonction de leur masse atomique, de leur charge électrique et de leur vitesse, par l’application de champs électromagnétiques.
Publié le 30 novembre 2021 , mis à jour le 26 novembre 2025.