Microscopie électronique à balayage

Microscope électronique à balayage à pression variable Jeol. Détecteurs électrons rétrodiffusés (contraste de numéro atomique), détecteurs électrons secondaires (imagerie classique), Détecteur et spectromètre de cathodoluminescence (imagerie et analyse spectrale). Détecteur RX à dispersion d’énergie refroidi par effet Peltier. Système associé de métallisation des échantillons.